Grande parte do sucesso da medicina moderna se deve ao desenvolvimento das técnicas de diagnósticos por imagem, tais como a tomografia computadorizada, a ultrassonografia e a ressonância magnética nuclear. Dentre essas técnicas, a tomografia de impedância elétrica (TIE) vem chamando a atenção de pesquisadores das mais diferentes áreas . Considerada uma técnica não invasiva e de baixo custo, a TIE vem ganhando maturidade nas ultimas décadas e muito esforço tem sido despendido, tanto no aperfeiçoamento da parte instrumental como no desenvolvimento de algoritmos numéricos. Este livro é uma introdução a alguns métodos computacionais aplicados á TIE. Com uma linguagem didática e simples, o texto discorre sobre a formulação matemática do problema da reconstrução da imagem na TIE e faz uma revisão sobre problemas inversos, técnicas de regularização e métodos de otimização. Mais especificamente , o texto apresenta o Método dos Elementos de Contorno como técnica para resolver numericamente o problema direto ( composto pela equação de Laplace e condições de contorno) e o algoritmo de otimização estocástico Simulated Annealing para tratar do problema inverso.
Código: |
L004-9788578614294 |
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Autor |
Vanessa |
Editora |
LIVRARIA DA FÍSICA |
Idioma |
PORTUGUÊS |
Encadernação |
Brochura |
Páginas |
178 |
Ano de edição |
2016 |
Número de edição |
1 |